Microscope électronique en transmission (MET)

L’ACCELARM 200 Cold FEG JEOL est un microscope électronique à transmission double corrigé, équipé d’un canon à émission de champs froid, d’un spectromètre EDX et d’un GIF. Il permet de déterminer l’organisation atomique des matériaux, d’un point de vue structural et chimique, grâce au couplage de l’imagerie haute résolution et de la cartographie élémentaire.

Il dispose d’un mode Low Mag proposant un large champ de vue de 440 µm, permettant de repérer facilement la zone d’intérêt sur l’échantillon. L’acquisition d’images à haute résolution est facilitée par des déplacements piezo de la platine sur 3 axes ainsi que par l’option de correction de dérive, en temps réel, de la caméra OneView. Le mode STEM est équipé de 3 détecteurs permettant de collecter simultanément les électrons diffusant à différents angles.

La configuration de cet instrument a été pensée pour répondre à un large éventail de besoins en micro- et nano-caractérisations des matériaux.

Le microscope est doté de différents porte-objets : simple tilt, double tilt analytique (Be), refroidit LN2 JEOL, et double tilt chauffant in situ (Fusion de Protochips).

Il possède également :

- un canon à émission de champ à pointe froide (Cold-FEG)
- un alignement à 2 tensions d’accélération : 200 kV et 80 kV suivant la sensibilité de l’échantillon au faisceau d’électrons
- 2 correcteurs image et sonde
- une caméra One View avec l’option in situ
- un spectromètre de dispersion en énergie des rayons X (EDXS),
- un filtre en énergie post-colonne (GIF Quantum ER Gatan 965) (EELS+EFTEM) avec détecteurs ADF/BF, option Dual EELS, caméra Ultrascan Gatan USC1000
Le microscope dispose également d’une station de pompage pour les porte-objets et d’un « Ion cleaner » pour nettoyer sous plasma les échantillons avant leur observation.

Oxydes, nanoparticules, minéraux, matériaux géologiques, polymères, alliages métalliques, semi-conducteurs, sous forme de poudre, couche mince ou massif.