Ellipsomètre

Ellipsomètre

Identité

Nom de l'équipement / technique : Ellipsomètre

Modèle (Référence) : Ellipsomètre WOOLAM M2000X

Crédit photo : Marie-Laure Thurier - CNRS

Description

L’ellipsométrie est une technique optique basée sur la mesure du changement de polarisation de la lumière après réflexion sur une surface plane.

Cette technique, non destructive, permet d’obtenir les valeurs des constantes optiques (indice de réfraction, coefficient d'absorption) et d’épaisseur de couche. Le couplage avec une cellule environnementale (exposition à des degrés d’hygrométrie contrôlés) est possible.

Une option « microspot » est également disponible, qui permet une mesure très localisée (~ 100 µm) sur l’échantillon dans le cas d’échantillon hétérogène ou de gradient de composition.

Équipement complémentaire

Cellule environnementale : Mesures en condition environnementale contrôlée (degré d’hygrométrie contrôlé par exemple)

Type d'échantillons

Polymères, Métaux, Diélectriques, Oxydes, Semi-conducteurs, Matériaux massifs, couches minces, revêtement, etc.

Contact

Nom du laboratoire
ICMN, Orléans

Contacter le responsable scientifique

Avant de prendre contact avec le laboratoire, veuillez prendre connaissance des modalités du parc instrumental

À noter : le mail envoyé ne sera lu que par le responsable scientifique de l’appareil.

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